高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。
高低溫試驗箱
高低溫試驗箱產品說明
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術的迅速發(fā)展,電工、電子產品的應用領域日益廣闊,所經受的環(huán)境條件也愈來愈復雜多樣。只有合理地規(guī)定產品的環(huán)境條件,正確地選擇產品的環(huán)境防護措施,才能保證產品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因而,電工、電子產品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學概括,具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設備提出了更嚴格的要求。
可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗樣品不會受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。
參照標準
滿足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《技術條件》進行設計制造,可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
主要技術參數(shù)
型號: GDW-100C型
工作室尺寸(D×W×H): 400×500×500㎜
外型尺寸(D×W×H): 1050×1000×1550㎜
溫度范圍: -40℃~100℃
溫度均勻度: ≤ 2℃ (空載時)
溫度波動度: ±0.5℃ (空載時)
溫度偏差: ≤±2℃
升降溫速率: 0.7℃~1.0℃/min (空載時)
時間設定范圍: 0~999 小時